各種電子回路設計、製造について

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history 過去の開発実績の紹介 silk_image アナログ回路や、モーター制御、スイッチング電源などのパワー回路を得意としています。 詳しくは過去の開発実績を参照してください。

最近はマイコン応用機器が多いんですが...

 ＰＩＣ（ピック、マイクロチップ社製８ビットマイコン）による開発が好評を得ています。　試作は市販のシーケンサを使い、量産時にマイコンに置き換える事により、コストダウン及びダウンサイジングが可能です。



 マイコンソフトウェアから電源回路まで、信頼性を重視される産業機器から低コストを要求される民生品まで、お客様のニーズ、スタイルにあわせて柔軟に対応いたします。
開発、試験設備
オシロスコープ
Tektronix　ＴＤＳ３１０、Tektronix　ＴＤＳ３４０
スペクトラムアナライザ
Advantest　ＴＲ４１２０Ａ
ファンクションシンセサイザ
NFelectronic　１７３２
発振器
Kenwood　ＡＧ−２０４
ディジタルマルチメータ
HewlettPackard　３４７８Ａ、Tektronix　ＳＴＡ５５Ｗ
周波数カウンタ
Iwatsu　ＦＣ−８８４１
ＬＣＲメータ
HewlettPackard　４２６１Ａ、Adex　ＡＸ−６０４０
トラッキング電源
Kikusui　ＰＤＭ３５−３
電力計
Hioki 3186
耐圧試験機
Kikusui　ＴＯＳ８６３０
絶縁抵抗試験機
Kikusui　ＴＯＳ７１００Ｌ
ノイズシミュレータ
ノイズ研究所　ＩＮＳ４１０
ノイズディップレコーダ
ノイズ研究所　ＮＤＲ−５５２
静電気許容度試験機
ノイズ研究所　ＥＳＳ−６３０Ａ
恒温恒湿槽
タバイエスペック　ＳＨ−２４０

鉛フリーに向けて。（２００４年７月〜）
当社では小ロットの産業製品向け基板や実装業者から上がってくる基板の修整などで、手ハンダ付けを行っています。
２００６年７月から施行されるＲｏＨＳ指令により、鉛入りハンダが使えなくなります。
現状では鉛フリーハンダや実装方法は開発途上のようで、各社対応にばらつきが見られますが、いち早く取り掛かることにより、問題点の洗い出しやノウハウの蓄積につながると考えられます。
定量的なデータや実験は専門家や大企業にお任せするとして、当社ではより実際の現場に近い実験をすることで問題点の洗い出しをしようと考えました。
９８年より累積３０００台で故障率０の実績のあるスイッチング電源があります。比較的大型部品が多いため、機械ストレスも多く、また、検査装置や試験データも充実していますのでターゲットに選びました。
３種類のハンダ（Sn60Pb40、Sn96.5Ag3Cu0.5、Sn99.3Cu+Ni0.7いずれもＨＯＺＡＮ製）で２セット計６台を作り、部品が抜ける方向に機械ストレスがかかる状態で２台の乗用車内に放置します。
これから真夏に向けて高温下でのヒートサイクル試験と振動による機械強度試験が同時にできると考えます。
あくまで定量的なデータではないのですが、１年ほど実験をして問題が無ければ、安心して鉛フリーに移行できる（気休め）にはなると思います。
２００４年７月５日にスタートしたのですが、約２カ月おきぐらいで検査をして、結果はこちらに報告する予定です。
鉛フリーに付いての有用な情報はこちら

２００４年９月３日検査
６台共、外観、電気特性に変化なし。


２００４年１１月２日検査　クラック発見！
写真は３０倍の画像です。

Sn96.5Ag3Cu0.5の２台中１台にクラックが発見されました。パターン幅を稼ぐために盛りハンダしてある部分です。電気特性に変化はありませんでした。
他の５台は外観、電気特性に異常なし。


２００５年１月６日検査　
１１月２日に発見されたクラックに変化はありませんでした。が、同一基板の別の場所に、２箇所追加発生していました。
やはりパターン幅を稼ぐために盛りハンダしてある部分です。


そして、もう１枚のSn96.5Ag3Cu0.5にもクラックが発見されました。

Sn96.5Ag3Cu0.5は全滅のようです。ただ、今回はPbメッキされた基板に盛りハンダしていますので、Pbが混ざることで何らかの影響があったかもしれません。
通電検査の結果、６台すべてに異常はありませんでした。


２００５年３月７日検査　
今回から写真はＱＸ３＋という（おもちゃのような）顕微鏡で撮る事にしました。
Sn96.5Ag3Cu0.5の１台に新たなクラックが１箇所発見されました。
写真は６０倍です。

通電検査の結果、６台すべてに異常はありませんでした。


２００５年５月９日検査　
目視検査でクラックの追加などの異常は見られませんでした。
通電検査の結果、６台すべてに異常はありませんでした。


２００５年７月５日最終検査
Sn96.5Ag3Cu0.5の１枚に新たにクラックが見つかりました。この基板は合計５箇所のクラックがあります。
走行距離の多い車に積まれていましたので、振動による影響が大きいのかもしれません。
写真は６０倍です。
写真ではわかりにくいですが、細かいクラックが無数にあります。
通電検査の結果、６台すべてに異常はありませんでした。
ちょうど１年になりましたので、今回で実験は終了します。
実験結果からはSn99.3Cu+Ni0.7が無難な感じがしますが、世の中の流れはSn96.5Ag3Cu0.5に傾いているのが悩ましいところです。
もうしばらく情報収集する必要がありそうです。


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